جستجو
جستجوی مقالات
جستجوی اعضا
جستجوی کتاب
جستجوی پایان نامه
جستجوی طرح های پژوهشی
جستجوی اختراعات
جستجوی ژورنال ها
مقالات
درباره شبکه
جشنواره
رکوردها
عضویت
خانه
عنوان مقاله
چکیده مقاله
کلمات کلیدی مقاله
محل پذیرش
کد شناسه مقاله
سال انتشار
نام نویسنده
برگزار کنندگان
نوع مقاله
نوع مقاله ...
پذیرفته شده در مجلات Scopus ,ISI با 4>IF>
پذیرفته شده در مجلات Scopus ,ISI, با IF=0
پذیرفته شده در مجلات علمی و پژوهشی
پذیرفته شده در سایر مجلات علمی معتبر و علمی مروری و ISC
پذیرفته شده در مجلات علمی ترویجی
مقاله کامل پذیرفته شده در کنفرانس ها
چکیده مقاله پذیرفته شده در کنفرانس ها(فایل کامل مقاله بارگزاری گردد)
سایر
پذیرفته شده در مجلات نمایه شده در PUBMED
پذیرفته شده در مجلات Scopus ,ISI با IF≥4
کل مقالات
زبان مقاله
زبان مقاله ...
فارسی
انگلیسی
عربی
سایر
ISSN
شروع جستجو
نمایش / عدم نمایش بخش جستجو
بررسی روند افزایش طول عمر و قابلیت اطمینان با استفاده از کاهش مصرف انرژی در شبکه های حسگر بیسیم
1393/12/26 19:44:10
نویسندگان :
بهزاد لطفی
محمدکاظم بشکنی
زبان : فارسی
سال انتشار :
1393
محل پذیرش : دومین همایش ملی پژوهشهای کاربردی در علوم کامپیوتر و فناوری اطلاعات
«
1
»
دسته بندی مقالات
9098
پذیرفته شده در مجلات Scopus ,ISI با 4>IF>
3342
پذیرفته شده در مجلات Scopus ,ISI, با IF=0
4088
پذیرفته شده در مجلات علمی و پژوهشی
5672
پذیرفته شده در سایر مجلات علمی معتبر و علمی مروری و ISC
1095
پذیرفته شده در مجلات علمی ترویجی
13547
مقاله کامل پذیرفته شده در کنفرانس ها
1308
چکیده مقاله پذیرفته شده در کنفرانس ها(فایل کامل مقاله بارگزاری گردد)
1164
سایر
36
پذیرفته شده در مجلات نمایه شده در PUBMED
88
پذیرفته شده در مجلات Scopus ,ISI با IF≥4
مقالات تصادفی
تعیین رابطه مدیریت دانش با عملکرد شرکت آب منطقه ای آذربايجانشرقی
1394/02/22 21:02:05
Relationship between vitality of the role in thevitality of the role in the
1394/05/24 11:51:50
پیمان نامه مدینه نمودی تاریخی در حل اختلاف
1397/10/10 15:45:53
Click Synthesis of 1-Aryl-1,2,3-Triazole Derivatives Catalyzed by Recyclable Ligand Complex of Copper(II) Supported on Superparamagnetic Fe3O4@SiO2 Nanoparticles
1395/10/18 13:30:47
Third-order passive filter improvement for renewable energy systems to meet IEEE 519-1992 standard limits
1395/10/06 23:55:30